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蔡司ZEISS
Sigma300蔡司ZEISS場發(fā)射掃描電鏡Sigma系列
蔡司ZEISS場發(fā)射掃描電鏡Sigma系列產(chǎn)品將場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)與良好的用戶體驗緊密地結(jié)合在一起。利用 Sigma 直觀的 4 步工作流程,可輕松實現(xiàn)構(gòu)建成像和分析程序,提高工作效率。您可以在更短的時間內(nèi)采集到更多數(shù)據(jù)。Sigma 可以搭載多種探測器,以滿足不同應(yīng)用需求:顆粒物、表面結(jié)構(gòu)、納米結(jié)構(gòu)、薄膜、涂層及多層膜等樣品成像。
產(chǎn)品分類
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品牌 | ZEISS/蔡司 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,制藥/生物制藥,綜合 |
蔡司ZEISS場發(fā)射掃描電鏡Sigma系列產(chǎn)品特點:
久經(jīng)考驗的 Gemini 技術(shù) Sigma 系列產(chǎn)品是基于 Gemini 設(shè)計研發(fā)的,此項技術(shù)已運用超 20 年之久,不斷打磨改進, 具有完整高效的探測系統(tǒng)、出色的圖像分辨 率和易用性等特點。
蔡司ZEISS場發(fā)射掃描電鏡Sigma系列Gemini 物鏡的設(shè)計結(jié) 合了靜電場與電磁場,在大幅提升光學(xué)性能 的同時將它們對樣品的影響大大降低。因此,即便是要求苛刻的樣品——如磁性材料,也 能進行高品質(zhì)成像。Gemini 的設(shè)計原理通 過對二次電子(SE)和 / 或背散射電子(BSE) 的探測來確保高效的信號檢測。Inlens 探測 器安裝在電子束光路的正光軸上,減少了 重新校準的操作,大大的縮短了成像時間。 Gemini 電子束推進器技術(shù)可以保證在超低 加速電壓下獲得小束斑和高信噪比的圖像。 此外,它確保了電子束在鏡筒中運動時始終 保持高加速電壓,更至出鏡筒后才減速至設(shè) 定電壓,更大程度地減小外部雜散磁場對系 統(tǒng)靈敏度的影響。Sigma 300 和 Sigma 500 兩者均應(yīng)用了 Gemini 設(shè)計、Inlens 探測器和 電子束推進器技術(shù)。
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