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PRODUCTS CNTER日本半導體MM測試儀本產品可進行器件級ESD測試,包括CDM測試。可應用于器件開發評價、器件認證和進廠測試、評價、使用環境評價等各種試驗用途。
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品牌 | TET | 產地類別 | 進口 |
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日本半導體MM測試儀產品規格:
1200 C: D-CDM/F-CDM()●1200 EL(ESD/閂鎖測試機臺)●1200 ELC(ESD/閂鎖/CDM 測試機臺)產品用途1200系列的4種功能:HBM、MM、閂鎖和CDM在一個系統中 ,1350引腳對測試可用(使用專用DUT板在非電源引腳和電源引腳之間時)。本產品可進行器件級ESD測試,包括CDM測試。可應用于器件開發評價、器件認證和進廠測試、評價、使用環境評價等各種試驗用途。
日本半導體MM測試儀產品詳情:
*1 MM 標準 400V。可施加 2KV,但在高電壓狀態下持續試驗會導致繼電器劣化。
*2 需要示波器、電流探頭、衰減器(20dB)。關于對應的產品,請另外商談。
*3 CDM 波形保證范圍為±2000V,空氣放電時受到濕度、接觸部的構造、污染等影響, 波形有可能會有很大變化。
*4 每個電源都具有閉鎖檢測功能和電源過壓測試功能。
*5 測試范圍由 Vsupply 而定。
*6 需使用熱電纜和外部測試夾具。
*7 該系統使用的組件包括水銀。請按照法律處理含有汞的組件。
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