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日本半導(dǎo)體MM測試儀本產(chǎn)品可進(jìn)行器件級ESD測試,包括CDM測試??蓱?yīng)用于器件開發(fā)評價、器件認(rèn)證和進(jìn)廠測試、評價、使用環(huán)境評價等各種試驗(yàn)用途。
日本半導(dǎo)體HBM測試儀本產(chǎn)品可進(jìn)行器件級ESD測試,包括CDM測試??蓱?yīng)用于器件開發(fā)評價、器件認(rèn)證和進(jìn)廠測試、評價、使用環(huán)境評價等各種試驗(yàn)用途。
日本TET半導(dǎo)體靜電測試儀陣容有: ●1100-ESD(ESD試驗(yàn)專用型號) ●1100-CDM (CDM試驗(yàn)專用型號) ●1100-LUP (LATCH UP閂鎖 試驗(yàn)專用型號)
日本半導(dǎo)體閂鎖測試儀$n系列測試機(jī)臺陣容有:$n●7000X-E(專用于ESD試驗(yàn))$n●7000X-L(專用于閂鎖試驗(yàn))$n●7000X-EL(用于ESD/閂鎖試驗(yàn))
日本TET東京電子株式會社 ESD1100系列 $nTET半導(dǎo)體CDM測試儀陣容有: $n●1100-ESD(ESD試驗(yàn)專用型號)$n●1100-CDM (CDM試驗(yàn)專用型號)$n●1100-LUP (LATCH UP閂鎖 試驗(yàn)專用型號)
日本TET東京電子株式會社 ESD1100系列 $n日本TET靜電測試儀測試機(jī)臺陣容有: $n●1100-ESD(ESD試驗(yàn)專用型號)$n●1100-CDM (CDM試驗(yàn)專用型號)$n●1100-LUP (LATCH UP閂鎖 試驗(yàn)專用型號)
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