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半導體閂鎖測試儀7000B產品用途【ESD部-滿足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC標準、ESD波形自動測試、對應引腳組合測試、高達8kV HBM測試、采用高規(guī)格電源進行破壞判定。
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半導體閂鎖測試儀7000B產品簡介7000B系列測試機臺陣容有：●7000B-E（專用于ESD試驗）●7000B-L（專用于閂鎖試驗）●7000B-EL（用于ESD/閂鎖試驗）產品用途【ESD部-滿足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC標準、ESD波形自動測試、對應引腳組合測試、高達8kV HBM測試、采用高規(guī)格電源進行破壞判定。】【閂鎖部-滿足 JEITA, JEDEC, AEC標準、DUT穩(wěn)定化功能 輸入引腳Max HI/Min LO和時鐘/圖形發(fā)生器為標準配置、可搭載最多10臺電源(內部6臺和外部4臺)、高溫閂鎖試驗（選件）、動態(tài)IC的閂鎖試驗（可選）。ESD/閂鎖共用部-引腳數(shù):128、256、512，最多10個相同的被測物連續(xù)測試。
半導體閂鎖測試儀7000B產品詳情:
*1 MM標準是400V。 可施加2kV，但持續(xù)高電壓試驗會使繼電器壽命縮短。
*2 每臺電源均具有閂鎖判定功能和電源過電壓功能。
*3 應同時使用耐高溫熱電纜和外部夾具。
*4 需使用示波器(3054系列)，電流探頭(CT-1)和20dB衰減器。
公司郵箱： [email protected]
服務熱線： 021-61656613
公司地址： 上海市浦東新區(qū)金橋路939號207室
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備案號：滬ICP備19022890號-2
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