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日本TET東京電子株式會社 ESD1100系列 $nTET半導體CDM測試儀陣容有： $n●1100-ESD（ESD試驗專用型號）$n●1100-CDM （CDM試驗專用型號）$n●1100-LUP （LATCH UP閂鎖 試驗專用型號）

日本TET東京電子株式會社 ESD1100系列 $n日本TET靜電測試儀測試機臺陣容有： $n●1100-ESD（ESD試驗專用型號）$n●1100-CDM （CDM試驗專用型號）$n●1100-LUP （LATCH UP閂鎖 試驗專用型號）

日本TET半導體ESD測試儀$n該系列測試機臺陣容有：$n●7000B-E（專用于ESD試驗）$n●7000B-L（專用于閂鎖試驗）$n●7000B-EL（用于ESD/閂鎖試驗）

ESD/閂鎖試驗機臺/7000B系列產品用途【ESD部-滿足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC標準、ESD波形自動測試、對應引腳組合測試、高達8kV HBM測試、采用高規格電源進行破壞判定。

ESD/閂鎖試驗機臺/7000X系列產品簡介7000X系列測試機臺陣容有：●7000X-E（專用于ESD試驗）●7000X-L（專用于閂鎖試驗）●7000X-EL（用于ESD/閂鎖試驗）

瞬態抗擾度測試系統產品簡介符合多種測試需求：電流測試 4.4A/電壓測試 25V產品用途單機提供多種解決方案，可見詳情或聯系我們。